6年間に実施された剖検で、全ての心臓植込み型電子デバイス(CIED)を取り外して電気生理学者とデバイスメーカーが解析を行った。その結果、死後のCIED解析は、突然死の大半および非突然死の約20%において、死亡のタイミングや機序および原因を明らかにするのに有用であること、ならびにメーカーが装置の致死的故障を特定するのに役立つことが判明した。米ジョンズ・ホプキンス大学の研究者らによるこの結果は、J Am Coll Cardiol誌の9月20日号に掲載された。

剖検での心臓植込み型電子デバイス解析は死因究明に有用の画像

ログインして全文を読む